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日本電子、高画質観察など容易な走査電子顕微鏡 （2016/9/14 電機・電子部品・情報・通信２）
【立川】日本電子は高画質観察やサブミクロン(1万分の1ミリメートル)サイズの元素分析データを簡易に取得できる走査電子顕微鏡「JSM―IT300HR」を発売した。... 観察から元素分析...
