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高速ライン、“電子の目”で異物検知 ＮＥＣと東大が認識技術
(2019/3/28 05:00)
ＮＥＣは、東京大学大学院情報理工学系研究科の石川正俊教授室・妹尾拓講師らの研究グループと共同で、高速で動く製造ラインでの外観検査や異物検知を瞬時に行う物体認識技術を開発した。脳神経を模したニューラルネットワークと高速カメラを組み合わせた。製造ラインの動きを調整しなくても、ベルトコ...
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(2019/3/28 05:00)
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