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記事検索結果
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オランダのASMLはフッ化アルゴン(ArF)エキシマレーザーを光源にした半導体用の液浸露光装置「TWINSCAN XT1950i」を開発した。
これまで露光光源に用いていたArFエキシマレーザーの波長は193ナノメートルのため、液浸にして明るさを表す開口数(NA)を向上しそれにより解像度を上げたとしても、ウエハー上に回路を焼き...
20ナノメートル世代では、フッ化アルゴン(ArF)エキシマレーザーを光源に用いた従来の露光装置では、微細な回路パターンを焼き付けられない。
商品化したのは、アルゴンフッ素(ArF)エキシマレーザーを光源とした45ナノメートル(ナノは10億分の1)プロセスに対応したもの。
露光光源の短波長化は、チップ上の回路線幅がマイクロメートルからナノメートル単位に微細化するに連れて、波長436ナノメートルのg線から同365ナノメートルのi線、同248ナノメートルのフッ化クリプトン&...
露光光源は半導体回路の微細化が進むに連れて、波長436ナノメートルの可視光線「g線」から365ナノメートルの紫外線「i線」、さらに248ナノメートルの「フッ化クリプトン(KrF)エキシ...
そこで、テストマーケティングの着地点としては、最新のエキシマレーザーであるKrF、ArFに使えないことも考慮し、(1)既存または中古の半導体製造設備のリニューアル用途で、営業力を補完す...
西田研究室の酸化物強誘電体の薄膜化は、原料にエキシマレーザーを照射して、アブレーションさせ、積層させながら堆積して形成する。