- トップ
- 検索結果
記事検索結果
13件中、1ページ目 1〜13件を表示しています。 (検索にかかった時間:0.008秒)
欧州の強化や米国、インドなどで日本と同じように多様な挑戦をし、成長しようと考えている」 ―極端紫外線(EUV)露光に対応した2ナノメートル(ナノは10億分の1...
大日本印刷(DNP)は27日、極端紫外線(EUV)リソグラフィーに対応した2ナノメートル(ナノは10億分の1)世代のロジック半導体向けフォトマスク...
トッパンフォトマスク(東京都港区、二ノ宮照雄社長)は7日、米IBMと極端紫外線(EUV)リソグラフィーを使用した2ナノメートル(ナノは10億...
中国では当社のフォトマスクのシェアは約5割。... 競合と協力する必要も出てくるかもしれない」 ―極端紫外線(EUV)マスクの状況と今後の方針は。 ...
TOPPANとDNPは極端紫外線(EUV)マスクの量産体制構築を視野に、設備投資にも動き出している。... EUVマスクの量産には描画装置のほか、専用の検査装置なども必要だ。... 2...
当社も26年度以降に朝霞工場(埼玉県新座市)で極端紫外線(EUV)マスクの量産ライン設置を検討している」 ―フォトマスクでは世界8拠点を持ちます。...
極端紫外線(EUV)マスク検査用光源などのインダストリアルプロセス事業の強化や、紫外線治療機器を含むライフサイエンス事業を新たな経営の柱に育てる。
大日本印刷は10日、5ナノメートル(ナノは10億分の1)世代の半導体製造に対応した極端紫外線(EUV)リソグラフィ技術向けのフォトマスクの製造技術を開発したと発表した。...
同装置はパターン付きマスクの検査を露光光源と同じEUVで行う「アクティニック・パターンド・マスク・インスペクション(APMI)」技術を採用した。 ... フォトマスク...
パターン付きマスクの検査を露光光源と同じEUVで行い「アクティニック・パターンド・マスク・インスペクション(APMI)」と呼ばれる。 ... これまでEUVのパターン...
パターン付きマスクの検査を露光光源と同じEUVで行う「アクティニック・パターンド・マスク・インスペクション(APMI)」の一つ。... これまでEUVのパターン付きマスク検査には、従来...
新製品はEUVマスクブランクスの多層膜内部にEUV光を照射し、欠陥によって散乱する光を検出して欠陥の有無を判定する。... 微細な半導体パターン転写が可能なEUVを露光に用いた技術だが、露光用原版のE...
【横浜】レーザーテックは極紫外線(EUV)マスク裏面の定期管理や受け入れ検査などができる装置「BASICシリーズ=写真」を発売した。... 対応する基板サイズは6インチのEUV...