OKI、AI・5G通信・8K画像処理で利用される最先端FPGAのバーンイン試験開始

バーンイン試験期間を2/3に削減し、小型衛星・自動運転などの開発期間短縮を支援



OKIグループで信頼性評価と環境保全の技術サービスを提供しているOKIエンジニアリング（https://www.oeg.co.jp/）（社長：橋本 雅明、本社：東京都練馬区、以下OEG）は、大容量データを高速処理するLSIである最先端FPGA(注1)のスクリーニング(注2)に対応した「バーンインシステム」の構築により試験期間を2/3に削減した「最先端FPGAバーンイン試験（https://www.oeg.co.jp/semicon/burn-in.html）(注3)」サービスを6月24日より開始します。小型衛星や自動運転など、複雑かつ高速な処理が必要な機器に最先端FPGAを採用するメーカーに向けてサービス提供し、短期間で製品の高信頼性を担保することで、お客様の開発期間短縮を支援します。

FPGAは、さまざまな用途向けにユーザーが回路構成やソフトウェアを設計してプログラムが可能なLSIで、高機能な処理を持たせることができ、複雑な演算処理を並列処理し、大容量のデータを高速に処理できます。人工衛星の気象情報予測に使われる画像処理、AI演算処理や、自動運転で使われる複数のカメラ情報処理、測位位置情報処理における5G通信や4K／8K画像処理などでの採用が大きく増加しています。これらの用途では、過酷な環境下でも確実に動作する高い信頼性が求められるため、高温環境下での耐久性を確認するバーンイン試験による安全性の確保が求められます。

OEGでは、これまでもLSIのスクリーニングでバーンイン試験を実施してきましたが、最大動作信号パターン長が短く、信号伝達速度が遅いため、高機能な最先端FPGAについて十分な耐久性を確認するには多くの時間がかかるという課題がありました。今回、新たに信号発生システムを独自開発し、信号伝達速度や最大動作信号パターン長を10倍にカスタマイズしたバーンインシステムを構築し、さらに信号伝達コマンドを改良して複雑な信号パターンを高速送信できるようにしたことで、従来の試験期間を2/3に削減した「最先端FPGAバーンイン試験」が可能になりました。

OEGは信頼性試験がお客様製品の高い品質を維持するために欠かせない技術であるとの考えに基づき、今後も技術者の育成や、設備・体制の強化に取り組んでまいります。

販売計画
標準価格：個別見積もり
販売目標：年間5,000万円
サービス提供開始：2020年6月24日

用語解説
注1：FPGA（Field Programmable Gate Array）
ユーザーがさまざまな用途向けに回路構成やソフトウェアを設計してプログラムすることが可能なLSIで、複雑な演算処理を並列処理し、大容量のデータを高速処理することができる。

注2：スクリーニング
電子部品の初期不良を取り除くための試験。宇宙航空分野で使用される電子部品にはMIL規格、JAXA規格で定められている。

注3：バーンイン試験
電子部品に対して行う出荷前稼動試験や使用開始前慣らし試験のこと。初期不良を取り除くためのスクリーニング試験の一つで、高温環境下で動作をさせ、製造欠陥などの初期不良品を検出する。

リリース関連リンク
「バーンイン試験」紹介サイト
https://www.oeg.co.jp/semicon/burn-in.html


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情報提供元：PRTIMES
本リリースの掲載元：https://prtimes.jp/main/html/rd/p/000000375.000017036.html