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[ 科学技術・大学 ]
半導体の原子レベルの構造欠陥、画像処理技術で検出−産総研など
(2017/9/27 05:00)
産業技術総合研究所分析計測標準研究部門の津田浩総括研究主幹らは、東芝デバイス＆ストレージ（東京都港区）と共同で、半導体の原子レベルの構造欠陥を網羅的に検出する画...
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(2017/9/27 05:00)
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