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半導体熱変形を可視化 エスペック、計測システム 過酷な温度環境を再現
(2023/12/29 05:00)
エスペックはマイナス４０度Ｃや１８０度Ｃなど過酷な温度環境を再現し、半導体パッケージや実装基板の反り...
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(2023/12/29 05:00)
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