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記事検索結果
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レーザーテックは、光源にEUVを使ったEUV露光用フォトマスク(半導体回路の原版)の欠陥検査装置で、シェア100%だ。EUV光は欠陥の検出感度が高いのが特徴だ。 ...
この過程で、プラズマ中の帯電粒子と深紫外光により、マイクロLEDの側面に高密度の欠陥が生成してしまう。LEDのサイズが小さくなると、欠陥が生成した側面の割合が高くなり、欠陥に捕獲されて発光に寄与しない...
とても難しい決断だった」 ―そう思わせる日本の社会保障は欠陥だらけなのですか。 ... 『裏技』とも言えるノウハウがあることは、社会保障制度に欠陥があるということで...
一連のハッキングは国家安全保障に対する重大な脅威となったことから、マイクロソフトが欠陥のあるソフトウエアでさらに利益を得ていると指摘する議員はいら立ちを見せている。
ヘッドの上下作動範囲の中で最適な高さで撮像、合成することで、プレスフィットのピン曲がりや位置ずれなどの欠陥を検出する。
耐熱材料の開発には、合金元素の結合様式のみならず、不純物や欠陥、微細組織など、幅広い空間・時間スケールでの複雑な制御を要するからだ。
光学ガラスのキズや欠陥、亀裂など不良の検出を完全自動化するのが最終目標。... 光学ガラスの検査は後から光を当て、キズや欠け、気泡、細く入った筋などの欠陥を探し出す。
SiC基板はスライス時の機械加工による歪みと結晶内の原子配置転換による構造変形の欠陥を持つ。... 同時に窒素を添加すると結晶内部の構造変形の伝搬を遮断する薄膜層が成長し、半導体の性能が欠陥の影響を受...
色抜けや画像ずれ、角折れなどの出力欠陥を検出し、不適合ページ用の専用トレーに自動で排出。直径0・2ミリメートルの画像欠陥も出力速度を落とすことなく検出できる。印刷後の目視検査、出力欠陥のあるページの再...
これまで外部委託していた鋳物の欠陥分析作業を社内で行う。... まずは火格子の欠陥分析で活用し、熱処理治具やトレーなど他の製品にも広げていく。
付随サービスで負担軽減 製造業者は製造物責任法(PL法)により、製品の欠陥を原因として第三者の身体や財物に損害を与えた場合、過失がなくとも責任を負わねばならないことは...
さらに新材料として注目されており、本来炭素原子がある場所に窒素原子が配置された構造欠陥を持つナノダイヤモンド粒子に着目。... 構造欠陥がないナノ粒子は近赤外レーザーの光圧に押されて動くが、構造欠陥が...
特に需要が高まっているのが、光源にEUVを使ったEUV露光用フォトマスク(半導体回路の原版)の欠陥検査装置で、同社が100%のシェアを持つ。従来EUV露光用マスクの検査では、主...
