記事検索結果

【水戸】三友製作所(茨城県常陸太田市、加藤木克也社長、0294・72・2245)は、産業技術総合研究所と共同で、半導体不良解析用に卓上型のプラズマエッチング装置を開発した。... 半導...

三友製作所、2工場を再編−加工・開発にそれぞれ特化（2011/1/21）

また、もう一方の工場を開発に特化することで、半導体不良解析用ツールの開発など、新規需要に備える。

パソコンを使ってデバイスの動作検証や不良解析、シミュレーションデータなどの診断、解析検証ができる。

JUKI、チップマウンターの製造過程モニターを海外展開（2010/6/10）

チップマウンターは処理速度の高速化などで生産性の向上が進む一方、製造不良の低減や不良原因の特定が求められている。モニター機能を量産時の不良解析ツールとして提案し、世界で年間100台の販売を見込む。&#...

シスウェーブ、インド社とLSI試験開発で提携（2010/2/5）

デザインハウスや多国籍企業に対し、ハードウエア設計、不良解析、テスト評価などのサービスを提供している。

JUKI、電子部品の吸着・搭載の瞬間をカメラ撮影（2009/10/27）

量産時の不良解析、新機種立ち上げ時の作業効率改善などのツールとして利用する。... 不良発生の結果は得られるが、原因を直接とらえられないという課題があった。

三友製作所、局所プラズマガン実装EDX装置開発にめど（2008/12/1）

半導体の不良解析やデバイス評価向けなどに実用化していく。

富士通など、半導体素子の不純物濃度評価で新手法（2008/11/12）

実際の素子に適用できるため、性能解析をより正確に精度良く行え、素子設計の効率化にもつながる。... 原理は同じ既存の走査型容量顕微鏡(SCM)に比べ、解析精度は1万倍という。... 富...

フリースケール・セミコンダクタ、テストセンター拡張（2008/5/20）

高集積度のアナログ半導体用の検査装置やマイクロコントローラーの不良解析装置を導入した。

丸文、宇都宮に新拠点−北関東の車向け営業強化（2008/3/12）

また同オフィスでは、車載向け半導体製造のフリースケール・セミコンダクタ・ジャパン(東京都目黒区)と製品開発、不良解析などで連携する。