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23件中、2ページ目 21〜23件を表示しています。 (検索にかかった時間：0.005秒)
大日本スクリーン、太陽電池製造装置に参入 （2008/7/23）
第1弾として、薄膜太陽電池の膜厚検査装置「エリプソ式分光膜厚計」を30日に発売する。... 膜厚検査装置はウエハーに斜めから光を当て反射光を測定する半導体膜厚検査装置を応用。
SII・ナノテク、大型プリント基板向け蛍光X線膜厚計を発売 （2008/6/12）
エスアイアイ・ナノテクノロジー(東京都中央区、03・6280・0070)は大型プリント基板向け蛍光X線膜厚計「SFT9500L」を発売した。... 基板上に積層した金やパラジウム、ニッ...
SNMアジア、1台で磁性・非磁性金属皮膜厚測定できる膜厚計発売 （2008/3/4）
SNMアジア(大阪市浪速区、中本鐵也社長、06・6567・5836)は、1台で磁性金属、非磁性金属の両方の皮膜の厚さを測定できるデュアルタイプ膜厚計を発売した。... 膜厚の測定範囲は...
