記事検索結果

関西大、超音波画像の歪み補正へ（2009/3/9）

超音波を用いた画像装置は医療分野の超音波診断、工業分野での非破壊検査、微小部分の物性と欠陥を高分解能で画像化する超音波顕微鏡などに用いられている。... 【欠陥検査に利用】金属材料を用いた非...

埼玉県、彩の国産業技術大賞にライトロン選ぶ（2009/1/26）

「超解像法を用いたフォトマスク欠陥検査装置」を開発した。半導体や液晶パネル用の原版を低価格、高速で検査できる。

レーザーテック、ウエハー欠陥検査装置の新シリーズ発売（2008/11/14）

【横浜】レーザーテックは13日、ウエハー欠陥検査装置の新シリーズ「M5640=写真」を発売したと発表した。... 同装置はウエハー製造工程で形成されるキラー欠陥(デバイス性能を阻害する...

画像処理技術を活用した表面欠陥検査装置や生分解性プラスチックの応用、ゆるまない締結具、多孔表面陶磁器など数多い。

アクティブ、画像検査装置事業を拡販（2008/9/8）

アクティブ(兵庫県明石市、山西麻雄社長、078・919・5070)は、画像検査装置の開発、営業体制を強化する。... 同社の検査装置は部品表面の微小な傷や切り粉の付着などの欠陥検査に加...

日本エレクトロセンサリデバイス、2010年秋に自社工場稼動（2008/8/28）

日本エレクトロセンサリデバイス(大阪市西区、力身総一郎社長、06・6534・5300)は、2010年9月をめどに大阪府泉佐野市で太陽電池と半導体用シリコンウエハーの欠陥検査装置の工場を...

赤外線サーモグラフィーによる非破壊検査では、放射赤外線をもとに対象物の表面温度分布を測定し、これに基づき対象物の欠陥を検出する。... 赤外線サーモグラフィー検査では、欠陥により熱伝導が妨げられること...

近年、X線や赤外線サーモグラフィと同様に欠陥の画像化が可能になり、客観性と再現性のよい検査が可能になった。... 内部欠陥の検査に加えて、表面直下の欠陥検査が可能である。... 0・1ミリメートル程度...

非破壊検査は主に材料表面もしくは内部のひび割れ等を検査する欠陥検査と、材料の硬さ等を評価する材質評価に大別され、安全で安心な社会を持続する上で、欠くことのできない存在となっている。 ... ま...

レーザーテック、大型フォトマスク用の欠陥検査装置を発売（2008/4/15）

【横浜】レーザーテックは大型フォトマスク基板の欠陥検査装置「LB79=写真」を発売した。... フォトマスクのベースとなるガラス基板の欠陥を検査する。... ガラス基板の精密研磨や洗浄後の品質...

【横浜】ニューフレアテクノロジーは従来の3倍以上の速度でフォトマスクの回路パターン欠陥を検出する装置「NPI5000PLUS」を開発した。... 光線によるフォトマスクの欠陥検査では、波長の4分の1が...

【横浜】レーザーテックは今後実用化される第10世代(ガラス基板サイズ2850ミリ×3050ミリメートル)以降の液晶用フォトマスク欠陥検査装置「LI712=写真」を発売...