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安永、３Ｄ光学式外観検査装置 セラミック基板用
(2017/9/14 05:00)
【津】安永は、次世代パワー半導体などに用いられるセラミック基板を高速・高精度に検査できる３次元（３Ｄ）光学式外観検査装置「ＦＶ２０３ＣＲ＝写真」を発売した。価格...
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(2017/9/14 05:00)
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