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[ エレクトロニクス ]
アドバンテスト、探針付き基板投入 300mmウエハーの検査効率向上
(2018/1/31 05:00)
アドバンテストは、ＤＲＡＭの半導体検査に使う基板「プローブカード」を４月に市場投入する。業界最高水準となる直径３００ミリメートルの大きさを実現し、検査効率を高め...
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(2018/1/31 05:00)
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