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記事検索結果
58件中、3ページ目 41〜58件を表示しています。 (検索にかかった時間：0.017秒)
【横浜】レーザーテックは従来機より検査速度を大幅に向上させた高速フォトマスク欠陥検査装置「MATRICS X700 HiTシリーズ=写真」を発売した。... フォトマスク製造工...
(社名、事業内容、連携大学の順) 【産学共同研究開発プロジェクト助成補助金】▽アイ電子(麻生区)=VLF/LF波を使った地震予知のた...
▽根岸工業所(岩手県奥州市)=次世代硫黄フリー“バイオコークス”キュポラ溶解による低コスト鋳造法確立と高機能鋳鉄部材製造技術の開発▽エキサイト(仙台市青葉区)&...
レーザーテック(横浜市港北区)などはSiCに対応した欠陥検査装置を製品化。... 【計測検査装置】 走査型電子顕微鏡(SEM)が主力の日立ハイテクノロ...
▽所在地=広島市東区、082・223・7625▽社長=加賀俊幸氏▽主な事業=自動車関連ヘッドライト検査、塗装欠陥検査装置など、電子応用装置の設計、製作 【丸善...
▽ヒラノファステック(徳島市)=材料削減と高強度化を実現する新規六角ボルト転造加工システムの開発▽徳島電制(同)=多結晶太陽電池ウエハーの高精度欠陥検査...
【厚木】省栄(神奈川県大和市、森下初夫社長、046・205・9961)は、プリント配線基板の断線、ショートなど、回線パターンの欠陥を検査する装置「ハイライン1200VCチェッカー...
タイヨー電機(大阪市北区、浜田安幸社長、06・6314・1110)は、3次元計測で表面の微細な凹凸を測定できるレーザー式欠陥検査装置「LDSS―01=写真」を5月に発売する。....
【横浜】レーザーテックは炭化ケイ素(SiC)ウエハー向けの欠陥検査装置「WASAVIシリーズ SICA61=写真」を発売した。明るい視野を実現するコンフォーカル(...
【横浜】レーザーテックは半導体部品の回路パターン原板となるフォトマスク用の欠陥検査装置「MATRICS X700シリーズ=写真」の受注を始めた。... 半導体設計ルール45ナノメートル...
キリンテクノシステム(横浜市鶴見区、三輪保生社長、045・521・2072)は、レーザーで金属の加工穴の内部欠陥を検査する「ジャイロスキャン」を小径に対応するよう改善した。... 人に...
製造ラインに組み込む多チャンネルタイプや、ロボットアームを用いた欠陥検査装置など3機種を追加。... パネル欠陥検査装置「SPS―400」は、白色発光ダイオード(LED)光源を搭載した...
「超解像法を用いたフォトマスク欠陥検査装置」を開発した。半導体や液晶パネル用の原版を低価格、高速で検査できる。奨励賞は固液分離装置「レックス」を開発したシーエムエス(春日部市)が受賞。
【横浜】レーザーテックは13日、ウエハー欠陥検査装置の新シリーズ「M5640=写真」を発売したと発表した。... 同装置はウエハー製造工程で形成されるキラー欠陥(デバイス性能を阻害する...
画像処理技術を活用した表面欠陥検査装置や生分解性プラスチックの応用、ゆるまない締結具、多孔表面陶磁器など数多い。
日本エレクトロセンサリデバイス(大阪市西区、力身総一郎社長、06・6534・5300)は、2010年9月をめどに大阪府泉佐野市で太陽電池と半導体用シリコンウエハーの欠陥検査装置の工場を...
【横浜】レーザーテックは大型フォトマスク基板の欠陥検査装置「LB79=写真」を発売した。... フォトマスクのベースとなるガラス基板の欠陥を検査する。... ガラス基板の精密研磨や洗浄後の品質...
【横浜】レーザーテックは今後実用化される第10世代(ガラス基板サイズ2850ミリ×3050ミリメートル)以降の液晶用フォトマスク欠陥検査装置「LI712=写真」を発売...
