- トップ
- 検索結果
記事検索結果
147件中、4ページ目 61〜80件を表示しています。 (検索にかかった時間：0.005秒)
高速で高感度に検出でき、ウエハー外周部の歩留まり向上につながる。... LX530はウエハー上のパターン幅を測定できる走査型電子顕微鏡と同等の感度でウエハー全面のパターン線幅のバラつきを検出でき、処理...
半導体製造装置はIoT市場の拡大によって、大量生産ではなく多品種のデバイス生産に適した直径200ミリメートルウエハー対応装置を中心に需要が急増すると見込まれている。... ウエハー上の膜の性能変化など...
インクを吐出するノズルの加工は、従来の機械加工から半導体製造プロセスを活用したウエハー上へのパターニングに変更した。
IBMが開発したIMSは、レジストで形成したウエハー上のマスク開口部に溶融ハンダを直接注入して埋め込み、微細なハンダバンプをつくる。... 従来は200ミリメートルウエハー向け試作装置しかなく、300...
例えば、ウエハー3位の独シルトロニックは近く新規株式公開(IPO)に踏み切り、得られた調達資金で資源確保に力を入れる。 ... 14年にウエハー部門としてサンエジソン...
また東芝グループとの合弁会社、東芝ナノアナリシス(川崎市幸区)を通じて半導体ウエハー上の欠陥などを検査する事業を手がける。
【京都】京セラは半導体ウエハー上にハンダの微細なバンプ(突起)を形成するウエハーバンピングの外販事業を拡大する。... ウエハーバンピングはプリント基板との接点となるバンプを作り込む工...
人的被害がなかったとはいえ、経営上のダメージは大きく、一から出直しを迫られた。... 例えば紫外線用の偏光子は、半導体ウエハー上のゴミを検出する用途で使われている。
超音波を使ってウエハー上の欠陥の密度を詳細に計測する。... 表面弾性波素子をウエハー上に載せ、欠陥(原子空孔)の周りに存在する電子軌道の量子状態を超音波で観測する手法を考案。... ...
2015年度にウエハーに形成する回路の線幅で世界最小となる15ナノメートル(ナノは10億分の1)の実現を目指す。 ... 半導体製造のうち露光は、ウエハーに回路を形成...
微小な空間内の液体によって生じる引力を利用して、ウエハー上の単結晶シリコン層を部分的に転写させることで実証した。... さらに150度C以下の低い温度で単結晶シリコンをプラスチック上に形成した。......
年内にウエハーに回路を形成する露光工程の微細化を進めるための共同研究に着手。... 樹脂材料を塗布したウエハー上に型を押しつけて凹凸を付ける形で回路を形成する。... 現在はASML、ニコンに水をあけ...
現在、半導体露光装置でウエハー上に描ける回路線幅は19ナノメートル(ナノは10億分の1)が最小。... MIIは、型をレジストを塗布したウエハー上に押しつけて、凹凸を付ける形で回路を描...
産業技術総合研究所と大日本印刷は、直径200ミリメートルの大口径ウエハー上に、一般的な圧電材料であるチタン酸ジルコン酸鉛(PZT)薄膜を使った圧電微小電気機械システム(MEMS...
部品パッケージのサイズがデバイスとほぼ同じ小ささで、切り離す前の半導体ウエハー上で一度に大量の中空構造が形成できる「ウエハーレベルCSP」を可能にした。
ウエハー上の被測定素子に対して100キロ―800メガヘルツの帯域で雑音特性を計測、評価できる。 ... 低雑音アンプをIC化して、ウエハー上の被測定素子に対し800メガヘルツまでの雑...
