- トップ
- 検索結果
記事検索結果
11件中、1ページ目 1〜11件を表示しています。 (検索にかかった時間:0.003秒)
リンテックは半導体回路パターンの微細化に対応できるEUV露光装置で、開発したペリクルの使用を想定。露光工程の生産性向上に寄与する。 ... EUV露光プロセスではこれまでのフッ化アル...
微細化、EUV向け先行 【レジスト活況】 世界各地で進む半導体増産計画を前に、化学各社は半導体製造プロセス材料の増産投資を活発化している。調査会社の富士経済(...
【設計合成に強み】 1970年代に半導体の量産が本格化した露光波長436ナノメートル(ナノは10億分の1)のg線レジストから積み上げてきた技術を応用。... 回路など...
AGC、フォトマスク母材拡販/三井化、保護膜“正規品”生産 極端紫外線(EUV)露光プロセス向け半導体材料・部材の需要が拡大してきた。... 今後も「露光機...
三井化学は、極端紫外線(EUV)露光プロセスで使われるフォトマスクの防塵カバー「EUVペリクル=写真」の商業生産を開始した。同製品の技術を持つEUV露光装置メーカーの蘭ASML...
半導体製造におけるリソグラフィ(露光)プロセスの開発に従事してきた。... 現在は次世代露光技術の開発にも携わり、日々難題に取り組んでいる。 ... 先端半導体リソグ...
露光プロセスと感光性樹脂(レジスト)をそれぞれ改良した。... 従来のEUV露光プロセスは1回のEUV露光でレジスト中に酸が発生し、反応が進む。... 2回目の光全面露光では、1回目の...
月内にもプリント基板の露光プロセスに用いる直接描画方式の紫外線(UV)露光装置「MLI―3000シリーズ」を発売する。... 伯東はこれまで、ガラスマスクスケーリング、フィルムマスクス...
「蛍光色素消光顕微鏡(FQM)」と名付けた新しい手法では、溶液中のグラフェンを観察できるほか、蛍光物質をフォトレジスト材料に混ぜることで露光プロセス中のグラフェンの画像も得られるという...