記事検索結果

テラダイン、27日に半導体検査セミナー（2018/2/16 電機・電子部品・情報・通信１）

テラダイン(横浜市西区)は27日10時半からヨコハマグランドインターコンチネンタルホテル(同区)で「デバイステスト最新技術セミナー」を開く。

キーサイト・テクノロジー(東京都八王子市、梅島正明社長、042・660・3000)は、光ファイバー通信用デバイスの性能測定に使う波長可変レーザー光源「81606A=写真」を発売...

アンリツ、次世代通信試験2種に1台で対応（2010/11/13）

アンリツはモバイルデバイステストプラットフォーム「ME7834=写真」の受注を16日から始める。

ジェイシーエム、デバイステスト評価用温調ソケットを完成（2010/1/8）

【新潟】ジェイシーエム(新潟県胎内市、中山立行社長、0254・44・2300)は、自己発熱デバイスの測定温度を安定させてテスト評価できる「温調ソケット=写真」を完成した。......

微細化の先に(4)NEC中央研究所支配人・住広直孝氏（2008/6/10）

この研究開発はソフトウエア、システム、デバイスなど中央研究所の3グループを横断することがコンセプト。... 「要素技術はLSIの回路、設計環境、材料、デバイス、テスト環境などすべての階層にまたがる。....