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ＡＩで異物の有無検査 日立ハイテク、走査電子顕微鏡向けシステム
(2018/9/12 05:00)
日立ハイテクノロジーズは、走査電子顕微鏡で取得した画像から人工知能（ＡＩ）が異物を検出するシステム「ＥＭ―ＡＩ」を開発した。人が組んだ従来の異物検知プログラムで...
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(2018/9/12 05:00)
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