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日本電子、微細試料向け複合ビーム加工観察装置 （2017/1/17 機械・ロボット・航空機２）
【立川】日本電子は1キロボルトの低加速電圧で分解能1・6ナノメートル(ナノは10億分の1)を実現した複合ビーム加工観察装置を発売した。... 「JIB―4700F=写真」は、集...
日本電子、加工速度2倍に上昇した複合ビーム加工観察装置を発売 （2015/2/23）
日本電子は薄膜材料や有機材料の形態観察や元素分析、結晶解析が1台で行える複合ビーム加工観察装置「JIB―4610F=写真」を24日に発売する。集束イオンビーム加工装置(FIB)...
乾坤一擲・計測機器各社の戦略(7)日本電子・原田嘉晏社長 （2008/3/31）
日本電子は走査型電子顕微鏡(SEM)や電子ビーム描画装置などを製造する。... 「卓上型SEMや複合ビーム加工観察装置などを投入し、海外での競争力を高める」と原田社長は語気を強める。&...
日本電子、FIBで加工しながら状態観察できる複合ビーム加工観察装置を発売 （2008/1/11）
日本電子は集束イオンビーム(FIB)で加工しながら走査型電子顕微鏡(SEM)で観察できる複合ビーム加工観察装置「JIB―4500=写真」を発売した。... 金属...
