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中央大、ＴＬＣメモリーの読み出しエラー８５％減できる手法を開発
(2016/6/15 05:00)
中央大学理工学部の竹内健教授の研究グループは、１セルに３ビットのデータを格納する大容量で低コストのＴＬＣ（トリプル・レベル・セル）フラッシュメモリーについて、メ...
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(2016/6/15 05:00)
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科学技術・大学のニュース一覧
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