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99年スタンフォード・ロー・スクール(JSM)修了。

汎用SEM「JSM―6510/6610」は操作支援機能を備え、反射電子と2次電子の両画像を同時に観察できる。「JSM―6510A/6610A」は分析装置を加えた。 ... ...

日本電子は試料表面の凹凸を鮮明にした画像や組成の差を強調した画像を表示できる走査型電子顕微鏡(SEM)「JSM―7600F=写真」を発売した。

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