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記事検索結果
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併せて、研究者のニーズが高い卓上走査電子顕微鏡(SEM)をはじめとする高価な研究機器や備品を時間単位で貸し出すサービスも開始。
一般的なLER計測では、高スループットの利点をもつ走査電子顕微鏡(SEM)が使われるが、SEM像に含まれるノイズなどが原因で計測の精度に課題がある。 産業技術総合研究...
集束イオンビーム(FIB)、走査電子顕微鏡(SEM)、エックス線CT(コンピューター断層撮影法)などの分析用装置による3次元画像から、多孔質材料の画像解...
電子回折・分光計測研究分野の寺内正己教授は、「電子顕微鏡で捉えられる元素情報の範囲を広げ、産学連携によりその技術を世に送り出した」と語る。 ... 汎用...
また東京都昭島市の日本電子が持つ世界最高クラスのNMRに接続し、長時間の遠隔利用で貴重なデータを取得するのに成功した。... 阪大の科学機器リノベーション・工作支援センターの古谷浩志副センター長は「さ...
それができる分析手法の中でも、低加速電圧にした走査電子顕微鏡(SEM)とエネルギー分散型X線検出器(EDX)を組み合わせた装置(SEM―EDX)を用いる...
日立ハイテクノロジーズと筑波大学は26日、医学分野や半導体などの研究に使う次世代の走査電子顕微鏡(SEM)の基盤技術について、共同研究を4月1日に始めると発表した。... 両者は、振動...
日本電子は東北大学多元物質科学研究所の陣内浩司教授と共同で、走査電子顕微鏡(SEM)で従来比1000倍以上の大面積を自動観察する技術を開発した。... 汎用SEMにプログラムを追加すれ...
【立川】日本電子は13日、処理能力が従来機種比で35%向上した走査電子顕微鏡(SEM)「JSM―IT500シリーズ=写真」を発売したと発表した。SEMとエネルギー分散形...
日立ハイテクノロジーズは、3次元(3D)構造解析に用いる集束イオンビーム加工装置(FIB)・走査電子顕微鏡(SEM)複合装置で、精度を高めた新製品を開発...
集束イオンビーム加工装置(FIB)と、走査電子顕微鏡(SEM)を組み合わせた装置。... 同装置は微細な材料を観察しやすいようにFIBで加工し、SEMで観察するのに使う...
【形状検査に限界】 走査プローブ顕微鏡(SPM)に関する開発は日本では旧電子技術総合研究所で先行的に始まり、現在の産業技術総合研究所に至るまで続いている。... だが...
【立川】エリオニクス(東京都八王子市、岡林徹行社長、042・626・0612)は、加速電圧50キロボルトの電子ビーム描画装置「ELS―S50」を開発した。... 電子デバイス、光学デバ...
【立川】エリオニクス(東京都八王子市、岡林徹行社長、042・626・0612)は、3次元粗さ解析走査電子顕微鏡「ERA―600FE=写真」を10月に発売する。... 走査電子顕...
材料科学技術振興財団(東京都世田谷区、沖村憲樹理事長、03・3749・2525)は、年内に透過型電子顕微鏡など3種類の分析装置を導入し、受託解析能力を強化する。... 新規に導入するの...
日立ハイテクノロジーズは、走査電子顕微鏡(SEM)で絶縁物試料を観察する際の前処理に使うイオン液体を発売した。... 自社のSEMとセットでの利用を提案し、年120本の販売を見込む。&...
通常の検出装置は走査電子顕微鏡(SEM)の電子銃から発生する電子線を使うが、新装置は焦電結晶を用いて発生する電子線を利用した。 ... そのため真空中でもわずかに存在...
産業技術総合研究所の脳神経情報研究部門構造生理研究グループと日本電子は共同で、湿った試料や溶液中の試料を大気圧で観察できる大気圧走査電子顕微鏡(ASEM)を開発したと発表した。 ...
日立ハイテクノロジーズは電界放出形走査電子顕微鏡(SEM)「SU8000形=写真」を発売した。... 試料から発生する2次電子や低角度散乱反射電子なども観察目的に合わせて検出で...
