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産総研・東北大、半導体内欠陥を観測できる小型装置
(2013/10/3 05:00)
産業技術総合研究所と東北大学は、従来のＸ線非破壊検査では見られなかった半導体封止材中の欠陥を観測する...
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(2013/10/3 05:00)
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