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記事検索結果
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両社は半導体の性能を左右する同ウエハーの特性均一性や低欠陥密度などの向上に向けた技術協力も強化する。 ... 同社製品は低欠陥密度などの特徴が評価され、2009年の発売以来、システム...
【欠陥抑える】 デバイスの大きさや用途などによって求められる仕様や能力はさまざま。... そのため、一般的な化学増幅型と比べて回路形成による欠陥を抑えられるという。 ...
小西金型工学 金型の欠陥情報収集、開発に生かす プレス金型製造の小西金型工学は金型の欠陥がよく出る箇所に装着して診断、メンテナンスの必要が生じた時などに知らせる自社製品のAI...
最近では、同太陽電池の製作時にあえて不純物を混ぜて、欠陥に電荷がトラップされるのを防ぐことでエネルギー変換効率を向上させる研究に取り組んでいる。
hBNがCNTを包んでいるが、欠陥が多いため電流の通り道ができる。この欠陥とアモルファスカーボンが導電経路になり、電圧をかけると電流が流れる。
欠陥は、それ自身が悪さをすることもあるが、このように不純物を運ぶ道として働き、デバイス不良を起こすこともある。... 【物は使いよう】 転位による不純物の高速拡散はパワーデバイスにと...
東レエンジニアリング(東京都中央区、岩出卓社長)は14日、半導体ウエハー検査装置「インスペクトラ」シリーズで人工知能(AI)による自動欠陥分類機能を搭載した新機種を8月...
(2)ではコンピューター利用解析(CAE)を用いて鋳造欠陥や金型にかかる応力を予測する手法を解説した。
研究チームはデータベースなどを基に寸法誤差、欠陥率予測を取り込んだMIシステムを構築した。同システムによって推定された制御パラメーターを用いて従来の造形体に比べ寸法誤差を従来比約75%減、欠陥...
同装置は撮影した表面の画像を、あらかじめ用意した多様な長さや向きの縞(しま)模様と比べ、類似度を計算し欠陥部を抽出する。 従来の検査では、光源を変えて撮った画像の濃淡...
内部が反射材料で覆われた積分球を用いることで結晶から全方向に放出される光であるフォトルミネッセンス(PL)を測定し、結晶の構造欠陥や不純物の有無を数値化する。
低電位の局所グラファイト領域でナトリウムイオンの挿入、中電位のグラファイト領域の欠陥のある場所でのナトリウムイオンの吸着、さらに全電位における完全にランダムな炭素内でのナトリウムイオンの吸着が起こると...
ローム・アポロ(福岡県広川町)の藤本武文氏は、半導体のシリコンウエハーの微細な欠陥の迅速な自動検査に適用した。
ペロブスカイト太陽電池は、製造過程でペロブスカイト層と電荷を輸送する層を接合すると界面に化学・物理欠陥ができる。
